
【반도체 패키징】 9강-박막의 특성 분석법
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공부/【반도체 패키징】
0. 이전 이야기 이전 포스팅에서는 반도체 패키징의 불량 검사와 측정 및 분석에 대하여 포스팅하였음반도체 패키징 공정에서 발생하는 불량은 제품의 신뢰성과 직결되기에 이를 효과적으로 검사하고 분석하는 과정이 필수적임불량은 크게 클레임 불량과 공정 불량으로 나뉨불량을 검사할 때는 비파괴 검사법과 파괴 검사법이 있는데 먼저 비파괴 검사법을 선행한 후에도 불량 원인을 찾지 못했다면 파괴 검사를 진행함비파괴 검사 방법으로는 AVI, 전기적 분석 EMMI, X-ray검사, 초음파 분석 그리고 FTIR 등이 있고 파괴 검사 방법으로는 사포를 이용하여 연마하는 폴리싱과 화학적 방법을 사용하는 디캡슐레이션 기법이 있음 【반도체 패키징】 8강-반도체 패키징 불량 검사와 측정/분석 - https://nate0707.tist..